Probion Analysis
Entity

  • Probion Analysis

    Created in 1998
  • BETA

    Up & running (A)
    Existing signals show a regular activity

  • Social networks

    71

  • Activities

    deeptech

  • Technologies

    Semiconductors

  • Entity types

    SMB

  • Location

    3 Av. du Canada, 91940 Les Ulis, France

    Les Ulis

    France

  • Employees

    Scale: 2-10

    Estimated: 7

  • SIREN

    420594848

  • Engaged corporates

    0
    0 0

  • Added in Motherbase

    3 years, 8 months ago
Description
  • Value proposition

    Your material analysis expert

    Probion Analysis is an independent company established in 1998 and located near Paris (France). We offer a material analysis service for semiconducting, metallic and insulating materials, providing support for industry and research.

    We have extensive experience in analysis of semiconducting and insulating materials with a special expertise in semiconductors: Silicon, III-V (including III-N) and II-VI. We can also analyse the insulating or metallic layers which are routinely associated to semiconductor devices and more generally, we will consider any type of request concerning analysis of solid samples (metallic alloys, glasses, coatings and thin films ...).

    With a broad range of analysis tools available (e.g. SIMS, XPS, ECV profiler, TOF-SIMS, RBS, FIB-TEM), we evaluate your issues and we suggest the most appropriate solutions to provide the information you require.

  • Original language

    Your material analysis expert

    Probion Analysis est une société indépendante créée en 1998, située à Bagneux près de Paris. Elle propose un service d’analyse d'échantillons de matériaux semiconducteurs, métalliques ou isolants à l'intention de l'industrie et de la recherche.

    Nous avons une expérience étendue des matériaux semiconducteurs et isolants avec une expertise particulière des semiconducteurs : Silicium, III-V et II-VI. Nous analysons également les couches isolantes ou métalliques couramment associées aux composants à semiconducteurs et aux circuits intégrés. Nous étudions plus généralement les demandes portant sur tout type de solide (alliages métalliques, verres, revêtements, couches minces ...).

    Avec une large palette d'outils d'analyse à notre disposition (SIMS, XPS, ECV profiler, TOF-SIMS, RBS, FIB-TEM), nous prenons connaissance de vos problématiques et nous vous proposons les solutions les plus adaptées à la recherche des informations dont vous avez besoin.

Corporate interactions BETA
Corporate TypeTweets Articles
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